Polar Imagingネフェロメーター

PI Nephelometer

精密な粒子特性評価のための高性能機器

PI Neph (Polar Imaging Nephelometer) は、粒子の特性を詳細に理解するために設計された高品質の実験装置です。超角散乱測定からサイズ分布や複素屈折率など、粒子の完全な特性評価を提供します。PI-Neph の機能には、3° ～ 176° の光散乱測定 、 1° 未満の角度分解能 、 2 波長の標準構成 (1 ～ 3 波長にカスタマイズ可能)、偏光、G RASP ™ 付属ソフトウェア パッケージなどがあります。

GRASP ソフトウェア パッケージは、サイズ分布、球形度、複素屈折率などのパラメータの取得に役立ちます。さらに、アルゴリズムのマルチソース取得機能の概要を提供し、さらに分析を進めることを提案できます。PI ネフェロメーターが多くの機能を備えているため、使用が複雑になります。この点で、ほとんどの機能の習得には、広範囲にわたる機器のトレーニングが必要です。つまり、この機器は粒子状物質に関する理解を深めるだけでなく、研修生に GRASP ソフトウェアの機能を紹介します。


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